تصویرگیری از توپوگرافی سطح مواد در SE Mode (مرکز خدمات آزمایشگاهی)

آزمایشگاه SEM
مرکز خدمات آزمایشگاهی

تصویرگیری از توپوگرافی سطح مواد در SE Mode (مرکز خدمات آزمایشگاهی)

با تابش باریکۀ الکترونی به سطح مواد، الکترون­های ثانویه از منطقۀ اثر بازتابیده شده و به آشکارساز مورد نظر برخورد می­کنند. تفاوت شدت آنها می­تواند نشان­دهندۀ جهت سطح نسبت به آشکارساز باشد و به این ترتیب می­توان توپوگرافی سطح را مشخص کرد.

تجهیزات آزمون

دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) مدل TeScan – Mira III ساخت کشور جمهوری چک

شرایط آزمون

از نمونه های جامد مهندسی غیر مغناطیسی و زیستی مختلف تصویرگیری می­شود و یک فایل تصویری تحویل می­گردد.

تعرفه آزمون

ساعتی 2/040/000 ریال

شرایط نمونه

امکان تصویرگیری از کلیۀ نمونه­ های جامد مهندسی غیر مغناطیسی و زیستی نسبتاً ریز (کوچک­تر از مکعبی به طول ضلع cm 3) وجود دارد.

مسئول آزمون

مهندس فرهنگ پارسی­ کیا

تماس با مسئول آزمون

کارشناس آزمایشگاه: مهندس فرهنگ پارسی­ کیا

تلفن: 66166232-021

ایمیل:  farhang_parsikia@alum.sharif.edu

آدرس پستی: تهران، دانشگاه صنعتی شریف، پشت دانشکده هوا و فضا، مجتمع خدمات فناوری، مرکز خدمات آزمایشگاهی

 درگاه پرداخت:

ثبت درخواست                                               

 

Copyright © 2012 Apycom jQuery Menus