تصویرگیری از توپوگرافی سطح مواد در SE Mode (مرکز خدمات آزمایشگاهی)

آزمایشگاه FE-SEM
مرکز خدمات آزمایشگاهی

تصویرگیری از توپوگرافی سطح مواد در SE Mode (مرکز خدمات آزمایشگاهی)

با تابش باریکۀ الکترونی به سطح مواد، الکترون­های ثانویه از منطقۀ اثر بازتابیده شده و به آشکارساز مورد نظر برخورد می­کنند. تفاوت شدت آنها می­تواند نشان­دهندۀ جهت سطح نسبت به آشکارساز باشد و به این ترتیب می­توان توپوگرافی سطح را مشخص کرد.

تجهیزات آزمون

دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی (-SEMFE) مدل TeScan – Mira III ساخت کشور جمهوری چک

شرایط آزمون

از نمونه های جامد مهندسی غیر مغناطیسی و زیستی مختلف تصویرگیری می­شود و یک فایل تصویری تحویل می­گردد.

تعرفه آزمون

ساعتی 2/520/000 ریال؛ تا اطلاع ثانوی خدمات با 20% تخفیف ارائه می شود

شرایط نمونه

امکان تصویرگیری از کلیۀ نمونه­ های جامد مهندسی غیر مغناطیسی و زیستی نسبتاً ریز (کوچک­تر از مکعبی به طول ضلع cm 3) وجود دارد.

مسئول آزمون

مهندس فرهنگ پارسی کیا

تماس با مسئول آزمون

کارشناس آزمایشگاه: مهندس فرهنگ پارسی کیا، مهندس صبا تابعان

شماره تماس: داخلی 105   8-66166246-021    (برای تعیین وقت با واحد پذیرش-داخلی 102، 103 و 112 تماس بگیرید)

 ایمیلclab@sharif.edu

آدرس پستی: تهران، دانشگاه صنعتی شریف، پشت دانشکده هوا و فضا، مجتمع خدمات فناوری، مرکز خدمات آزمایشگاهی

ثبت درخواست                                               

 

Copyright © 2012 Apycom jQuery Menus